在半导体材料研究中，高阻材料（如SiC、GaN 等宽禁带半导体、绝缘层材料）的电学特性测试一直是难点。这类材料在常温下电阻极高，而低温环境更能凸显其本征电学性能 ——但精准捕捉低温下的高阻信号，离不开稳定的温控与测试环境。冷热台，正是破解这一难题的核心设备。
下面是某企业所利用该方案测定不同温度下半导体材料的电学性能
武汉光谷薄膜冷热台凭借三大核心优势，成为半导体高阻材料测试的可靠选择：
1. 宽温域精准控温，覆盖关键测试区间：
支持-196-600℃温度范围调节，温度稳定性达±0.1℃。避免温度漂移对高阻信号的干扰。无论是研究材料在极低温下的绝缘特性，还是观察变温过程中的电阻突变，都能精准捕捉。
2. 快速更换样品台：
仅需卸装4颗螺丝即可打开产品上盖，5 分钟即可快速完成样品台的更换。
3. 灵活兼容，适配多样测试场景：
样品台支持薄片、晶圆等多种形态的半导体材料，兼容四探针、霍尔测试等常用电学测试模式。无论是高校实验室的基础研究，还是半导体企业的器件筛选，都能快速集成到测试链路中。
