随着新型纳米材料在电子器件、传感器等领域的广泛应用，精确表征材料在不同环境下的介电性能成为研究关键。我们基于冷热台HCS与阻抗分析仪的联用技术，能实现测试氧化石墨烯薄膜的介电常数随温度变化的规律，揭示其介电性能的温度依赖性机制。
HCS冷热台凭借其宽温区和高精度温控能力，为介电测试提供了稳定的温度环境。其智能化设计解决了传统变温装置体积庞大、液氮填充频繁的痛点，通过磁屏蔽结构优化和自动液氮补给系统，实现了与阻抗分析仪的无缝联用。
实验过程中，氧化石墨烯薄膜样品被固定于平行板电极间，通过冷热台温度梯度循环同步采集介电常数（ε'）相关数据。通过循环变温测试，成功复现了柔性电子器件在极端环境下的介电性能衰减规律，测得介电常数漂移量，证明材料的结构稳定性。
冷热台联用阻抗分析仪技术为二维材料介电研究提供了高精度、宽温区的测试方案。本研究不仅阐明了氧化石墨烯的介电机理，更为设计温度自适应介电功能材料奠定了实验基础。未来可结合原位拉曼光谱，进一步揭示微观结构与宏观介电性能的构效关系。
